| | Примечания: | (1) В этом подклассе используемые термины означают следующее: |
| | | | - "исследование" - испытание материалов или определение их свойств; |
| | | | - "материал" - любые твердые, жидкие или газообразные вещества или среды, например атмосфера. |
| | | (2) См. также примечание, следующее непосредственно за заголовком класса G 01. |
| | | (3) Исследование свойств материалов, специально предназначенных для использования в процессах, отнесенных к подклассу B 23K, классифицируется в рубрике B 23K 31/12. [5] |
|
| | Содержание подкласса:
| ПОЛУЧЕНИЕ И ПОДГОТОВКА ОБРАЗЦОВ | 1/00 |
| ИССЛЕДОВАНИЕ РАЗЛИЧНЫХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ |
| Механической прочности; плотности; текучести | 3/00;9/00;11/00 |
| Поверхностных или граничных свойств; размеров частиц или их концентрации; проницаемости, внутреннего трения, сил сцепления | 13/00;15/00;19/00 |
| Устойчивости к атмосферному воздействию | 17/00 |
| МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ |
| Взвешивание; измерение давления или объема газа; механические | 5/00,7/00,19/00 |
| Оптические; с использованием сверхвысоких частот; радиационные | 21/00; 22/00;23/00 |
| С использованием магнитного резонанса или других спинэффектов | 24/00 |
| Тепловые; электрические, электрохимические, магнитные; звуковые | 25/00;27/00;29/00 |
| Путем разделения на составные части (компоненты);с использованием химических способов | 30/00,31/00 |
| ИССЛЕДОВАНИЕ МАТЕРИАЛА СПОСОБАМИ, НЕ ОТНЕСЕННЫЕ К ПРЕДЫДУЩИМ ГРУППАМ | 33/00 |
| Иммунологический анализ | 33/53 |
| АВТОМАТИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ | 35/00 |
| КОНСТРУКТИВНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ, НЕ ПРЕДУСМОТРЕННЫЕ В ПРЕДШЕСТВУЮЩИХ ГРУППАХ | 37/00 |
|
| | G01N 1/00 | Получение и подготовка образцов для исследования (манипулирование материалами при автоматическом анализе 35/00) |
| | G01N 3/00 | Исследование прочностных свойств твердых материалов путем приложения к ним механических усилий (тензометры G 01B; измерение механических напряжений вообще G 01L 1/00) |
| | G01N 5/00 | Анализ материалов путем взвешивания, например взвешивание малых частиц, выделенных из газов или жидкостей (9/00 имеет преимущество) |
| | G01N 7/00 | Анализ материалов путем измерения давления или объема газа или паров |
| | G01N 9/00 | Определение плотности или удельного веса материалов; анализ материалов путем определения их плотности или удельного веса (устройства для взвешивания G 01G) |
| | G01N 11/00 | Исследование свойств текучих сред, например определение вязкости, пластичности; анализ материалов путем определения их текучести |
| | G01N 13/00 | Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности; исследование диффузионных эффектов; анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне [1,7] |
| | G01N 15/00 | Исследование свойств частиц; определение проницаемости, пористости или площади поверхности пористых материалов (идентификация микроорганизмов C 12Q) [4] |
| | G01N 17/00 | Исследование устойчивости материалов к атмосферному или световому воздействию; определение антикоррозионных свойств |
| | G01N 19/00 | Исследование материалов механическими способами (3/00-17/00 имеют преимущество) |
| | G01N 21/00 | Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей (3/00-19/00 имеют преимущество; измерение механических напряжений вообще G 01L 1/00; оптические элементы измерительных приборов G 02B; анализ изображений путем обработки данных G 06T) |
| | G01N 22/00 | Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот (3/00- 17/00,24/00 имеют преимущество) [3] |
| | G01N 23/00 | Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения (3/00-17/00 имеют преимущество; измерение силы вообще G 01L 1/00; измерение ядерного или рентгеновского излучения G 01T; введение объектов или материалов в ядерные реакторы, извлечение их из ядерных реакторов или хранение их после обработки в ядерных реакторах G 21C; конструкция или принцип действия рентгеновских аппаратов или схемы для них H 05G) |
| | G01N 24/00 | Исследование или анализ материалов с помощью ядерного магнитного резонанса, электронного парамагнитного резонанса или других спин-эффектов (устройства или приборы для измерения эффектов магнитного резонанса G 01R 33/20) [3,4,5] |
| | G01N 25/00 | Исследование или анализ материалов с помощью тепловых средств (3/00-23/00 имеют преимущество) |
| | G01N 27/00 | Исследование или анализ материалов с помощью электрических, электрохимических или магнитных средств (3/00-25/00 имеют преимущество; измерение переменных электрических или магнитных величин и исследование электрических или магнитных свойств материалов G 01R) |
| | G01N 29/00 | Исследование или анализ материалов с помощью ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых волн; визуализация внутреннего строения объектов путем пропускания через них ультразвуковых или звуковых волн через предметы (3/00-27/00 имеют преимущество; измерение или индикация ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых волн вообще G 01H; системы с использованием эффектов отражения или переизлучения акустических волн, например акустическое изображение G 01S 15/00; получение записей с помощью способов и устройств, аналогичных используемым в фотографии, но с использованием ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых волн G 03B 42/06) [4] |
| | G01N 30/00 | Исследование или анализ материалов путем разделения на составные части (компоненты) с использованием адсорбции, абсорбции или подобных процессов или с использованием ионного обмена, например хроматография (3/00-29/00 имеют преимущество; разделение для подготовки или получения составных частей B 01D 15/00, B 01D 53/02,B 01D 53/14) [4] |
| | G01N 31/00 | Исследование или анализ небиологических материалов химическими способами, упомянутыми в подгруппах данной группы (определение эффективности или завершенности процессов стерилизации без использования ферментов или микроорганизмов A 61L 2/28; способы измерения или испытания с использованием ферментов или микроорганизмов C 12Q 1/00); приборы, специально предназначенные для осуществления этих способов [4] |
| | G01N 33/00 | Исследование или анализ материалов особыми способами, не отнесенными к группам 1/00-31/00 |
| | G01N 35/00 | Автоматический анализ, не ограниченный методами или материалами, предусмотренными только одной из групп 1/00-33/00; манипулирование материалами при этом [3] |
| | G01N 37/00 | Элементы, не предусмотренные другими группами данного подкласса [3] |
ЕАПО > РОСПАТЕНТ
> Международная патентная классификация
МПК7
