ЕАПО > РОСПАТЕНТ > Международная патентная классификация

Введение в МПК Текст МПК8  A   B   C   D   E   F   G   H   МПК7   МПК6   G   G01   G01R  IPC - English IPC - France

G01R 33/00 - Устройства для измерения переменных магнитных величин   33/02 .  измерение направления или напряженности магнитных полей или магнитных потоков (33/20 имеет преимущество; измерение направления или напряженности магнитного поля земли для целей навигации или съемки G 01C; для разведки, для измерения магнитного поля земли G 01V 3/00) [4]   33/022 . .  измерение градиента [3]   Примечание: Рубрики 33/022 или 33/10 имеют преимущество перед рубриками 33/025-33/06.   33/025 . .  компенсационных полей рассеяния [3]   33/028 . .  электродинамические магнитометры [3]   33/032 . .  с помощью магнитооптических приборов, например приборов Фарадея [3]   33/035 . .  с помощью приборов со сверхпроводимостью [3]   33/038 . .  с помощью постоянных магнитов, например компенсаторов, крутильных устройств [3]   33/04 . .  с использованием принципа магнитного строба   33/05 . .  .  в тонкопленочных элементах [3]   33/06 . .  с помощью гальваномагнитных приборов   33/07 . .  .  приборов, основанных на эффекте Холла [6]   33/09 . .  .  приборов с магнитным сопротивлением [6]   33/10 . .  путем построения диаграммы распределения поля   33/12 .  измерение магнитных свойств образцов твердых или текучих материалов или изделий из них (с применением электронного или ядерного магнитного резонанса 33/20) [4]   33/14 . .  определения и(или) построения гистерезисных кривых   33/16 . .  измерения магнитной восприимчивости   33/18 . .  определения магнитострикционных свойств   33/20 .  с применением магнитного резонанса (медицинские аспекты A 61B 5/055; гирометры с ядерным магнитным резонансом G 01C 19/60) [4,5]   33/24 . .  для измерения направления или величины магнитных полей или магнитных потоков [4]   33/26 . .  .  с использованием оптической накачки [4]   33/28 . .  конструктивные элементы устройств, отнесенных к рубрикам 33/44-33/64 [5]   33/30 . .  .  устройства для обработки образцов, например пробные элементы, механизмы, обеспечивающие вращение вокруг оси, вытягивание [5]   33/31 . .  . .  температурный контроль для этого [6]   33/32 . .  .  системы возбуждения или обнаружения, например с использованием радиочастотных сигналов [5]   33/34 . .  . .  элементы конструкции, например резонаторы [5]   33/341 . .  . .  .  включающие поверхностные обмотки [6]   33/3415 . .  . .  . .  включающие ряд вспомогательных катушек [6]   33/343 . .  . .  .  электронных ламп типа щелевого или петлевого зазора [6]   33/345 . .  . .  .  волнового типа (33/343 имеет преимущество) [6]   33/36 . .  . .  электрические элементы, например сочетание или соединение катушек с приемником [5]   33/38 . .  .  системы генерации, обеспечения однородности или стабилизации основного или градиентного магнитного поля [5]   Примечание: Рубрики 33/385-33/389 имеют преимущество перед рубриками 33/381-33/383. [6]   33/381 . .  . .  с использованием электромагнитов (электромагниты как таковые H 01F 7/06) [6]   33/3815 . .  . .  .  со сверхпроводящими обмотками, например источники питания для них (магниты со сверхпроводящими обмотками H 01F 6/00) [6]   33/383 . .  . .  с использованием постоянных магнитов (постоянные магниты как таковые H 01F 7/02) [6]   33/385 . .  . .  с использованием градиентного магнитного поля катушек [6]   33/387 . .  . .  компенсации неоднородностей (экранирование 33/42) [6]   33/3873 . .  . .  .  с использованием ферромагнитных тел [6]   33/3875 . .  . .  .  с использованием блока корректирующих катушек, например активное шиммирование (компенсация) [6]   33/389 . .  . .  стабилизация поля [6]   33/42 . .  .  экранирование (экранирование вообще H 05K 9/00) [5,6]   33/421 . .  . .  основного или градиентного магнитного поля [6]   33/422 . .  . .  радиочастотного поля [6]   33/44 . .  с использованием ядерного магнитного резонанса (ЯМР) (33/24,33/62 имеют преимущество) [5]   33/46 . .  .  спектроскопия с использованием ядерного магнитного резонанса [5]   33/465 . .  . .  с применением биологических материалов, например испытания в искусственных условиях [6]   33/48 . .  .  системы получения изображения с использованием ядерного магнитного резонанса [5]   33/483 . .  . .  с отбором сигнала или спектра из отдельных областей объема, например спектроскопия в естественных условиях [6]   33/485 . .  . .  .  основанные на данных о химическом сдвиге [6]   33/50 . .  . .  основанные на определении времени релаксации [5]   33/54 . .  . .  системы обработки сигналов, например с использованием импульсных рядов [5]   33/56 . .  . .  .  усиление или выпрямление изображения, например искажение и усреднение [5]   33/561 . .  . .  . .  путем уменьшения времени сканирования, то есть быстрообнаруживающие системы, например с использованием отраженных плоских импульсных рядов [6]   33/563 . .  . .  . .  движущегося материала, например контрастная ангиография [6]   33/565 . .  . .  . .  коррекция искажения изображения, например благодаря неоднородности магнитного поля [6]   33/567 . .  . .  . .  управлением импульсами физиологических сигналов [6]   33/58 . .  . .  калибровка систем получения изображения, например с использованием испытательных зондов [5]   33/60 . .  с использованием электронного парамагнитного резонанса (33/24,33/62 имеют преимущество) [5]   33/62 . .  с использованием двойного резонанса (33/24 имеет преимущество) [5]   33/64 . .  с использованием циклотронного резонанса (33/24 имеет преимущество) [5] Введение в МПК         Текст МПК8         IPC - English         IPC - France