В начало Российская ФедерацияРоссийская Федерация РОСПАТЕНТ
ЕАПО > РОСПАТЕНТ > Международная патентная классификация English

 

Введение в МПК

Текст МПК8

 A   B   C   D   E   F   G   H 
 МПК7 
 МПК6 
  G 
 G01 
 G01N 

IPC - English

IPC - France


Российская Федерация Российская Федерация
G01N 23/00 - Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения (3/00-17/00 имеют преимущество; измерение силы вообще G 01L 1/00; измерение ядерного или рентгеновского излучения G 01T; введение объектов или материалов в ядерные реакторы, извлечение их из ядерных реакторов или хранение их после обработки в ядерных реакторах G 21C; конструкция или принцип действия рентгеновских аппаратов или схемы для них H 05G)
 23/02. путем пропускания излучений через материал
 23/04. . с последующим получением изображения (электронные микроскопы H 01J)
 23/05. . . с использованием нейтронов [3]
 23/06. . с последующим измерением поглощения
 23/08. . . с помощью электрических средств обнаружения
 23/083. . . . рентгеновского излучения (23/10-23/18 имеют преимущество) [5]
 23/087. . . . . с использованием полиэнергетического рентгеновского излучения [5]
 23/09. . . . нейтронного излучения [3]
 23/10. . . . материалов, заключенных в сосуд (23/09 имеет преимущество) [3]
 23/12. . . . жидких, газообразных или сыпучих веществ (23/09 имеет преимущество) [3]
 23/14. . . . . с регулированием или контролем процессов или с сигнализацией
 23/16. . . . движущихся листовых материалов (23/09, 23/18 имеют преимущество) [3]
 23/18. . . . обнаружение локальных дефектов или вкраплений (23/09 имеет преимущество) [3,5]
 23/20. с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения
 23/201. . путем измерения малых углов рассеяния [2]
 23/202. . . с использованием нейтронов [3]
 23/203. . путем измерения обратного рассеяния [2]
 23/204. . . с использованием нейтронов [3]
 23/205. . дифракционными камерами (23/201 имеет преимущество) [2]
 23/206. . . с использованием нейтронного излучения [3]
 23/207. . средствами дифрактометрии с использованием детекторов, например с использованием различающего спектр кристалла или анализируемого кристалла, расположенного в центре, и одного или нескольких детекторов, перемещаемых по окружности (23/201 имеет преимущество; спектрометрия интенсивности индикаторного или измеряемого излучения G 01T 1/36) [2]
 23/22. измерением вторичной эмиссии [2]
 23/221. . активационным анализом [2]
 23/222. . . с использованием нейтронов [3]
 23/223. . облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции [2]
 23/225. . с использованием электронного или ионного микроскопа (трубки с электронным или ионным пучком для микроанализа H 01J 37/00) [2]
 23/227. . измерением фотоэлектрического эффекта, например оже-электронов [2]
Введение в МПК         Текст МПК8         IPC - English         IPC - France