ЕАПО > РОСПАТЕНТ > Международная патентная классификация

Введение в МПК Текст МПК8  A   B   C   D   E   F   G   H   МПК7   МПК6   H   H01   H01J  IPC - English IPC - France

H01J 37/00 - Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки (33/00,40/00,41/00,47/00,49/00 имеют преимущество; исследование или анализ поверхностных структур на атомном уровне с использованием техники сканирующего зонда G 01N 13/10, например растровая туннельная микроскопия G 01N 13/12; бесконтактные испытания электронных схем с использованием электронных пучков G 01R 31/305; детали устройств, использующих метод сканирующего зонда вообще G 12B 21/00) [2,5]   37/02 .  элементы конструкции   37/04 . .  электродные и другие связанные с ними устройства для генерирования разряда и управления им, например электронно-оптические устройства, ионно-оптические устройства   37/05 . .  .  электронно- или ионно-оптические устройства для разделения электронов или ионов в соответствии с их энергией (трубки для разделения частиц 49/00) [3]   37/06 . .  .  источники электронов; электронные пушки   37/063 . .  . .  геометрическое устройство электродов для формирования лучей [3]   37/065 . .  . .  конструкция электронных пушек или их частей (37/067-37/077 имеют преимущество) [3]   37/067 . .  . .  замена частей электронных пушек; регулировка положения электродов относительно друг друга (37/073-37/077 имеют преимущество; вакуумные затворы 37/18) [3]   37/07 . .  . .  устранение вредных эффектов, вызванных действием температуры, электрического или магнитного полей (37/073-37/077 имеют преимущество) [3]   37/073 . .  . .  электронные пушки с использованием источника электронов с автоэлектронной эмиссией, фотоэмиссией или вторичной эмиссией [3]   37/075 . .  . .  электронные пушки с использованием термоионной эмиссии с катодов, нагреваемых за счет бомбардировки частицами или облучения, например лазерами [3]   37/077 . .  . .  электронные пушки с использованием разряда в газах или парах в качестве источников электронов [3]   37/08 . .  .  источники ионов; ионные пушки   37/09 . .  .  диафрагмы; экраны, связанные с электронно- или ионно-оптическими устройствами; компенсация возмущающих полей [3]   37/10 . .  .  линзы   37/12 . .  . .  электростатические   37/14 . .  . .  магнитные   37/141 . .  . .  .  с электромагнитами [3]   37/143 . .  . .  .  с постоянными магнитами [3]   37/145 . .  . .  комбинации электростатических и магнитных линз [3]   37/147 . .  .  устройства для направления или отклонения разряда вдоль требуемого пути (линзы 37/10) [2]   37/15 . .  . .  механическая регулировка извне электронно- или ионно-оптических элементов конструкции (37/067, 37/20 имеют преимущество) [3]   37/153 . .  .  электронно-оптические или ионно-оптические устройства для коррекции дефектов изображения, например стигматоры [2]   37/16 . .  баллоны; колбы   37/18 . .  вакуумные затворы   37/20 . .  устройства для крепления или управления положением объекта или материала; устройства для регулирования диафрагм или линз, конструктивно сопряженных с опорой (подготовка образцов для исследований G 01N 1/28)   37/21 . .  приспособления для фокусировки [2]   37/22 . .  оптические или фотографические устройства, конструктивно сопряженные с прибором   37/24 . .  общие схемы, не предназначенные для какого-либо специального применения и не отнесенные к другим рубрикам   37/244 . .  детекторы; связанные составные части или схемы для них [3]   37/248 . .  составные части, связанные с питанием высоким напряжением (устройства питания высоким напряжением вообще H 02J,H 02M) [3]   37/252 .  приборы для анализирования пятна с помощью электронных или ионных лучей; микроанализаторы (исследование или анализ с использованием вторичной эмиссии G 01N 23/22) [3]   37/256 . .  с использованием сканирующих лучей [3]   37/26 .  электронные или ионные микроскопы, трубки с дифракцией электронов или ионов [2]   37/27 . .  теневая микроскопия [3]   37/28 . .  со сканирующими лучами (микроанализаторы со сканирующими лучами 37/256)   37/285 . .  эмиссионные микроскопы, например автоэлектронные микроскопы [2]   37/29 . .  зеркальные (отражательные) электронные микроскопы [2]   37/295 . .  дифракционные трубки с отклонением ионов или электронов [2]   37/30 .  электронно-лучевые или ионно-лучевые приборы для местной обработки объектов   37/301 . .  устройства, дающие возможность лучам проходить между областями с различным давлением [3]   37/302 . .  управление приборами с помощью информации, поступающей извне, например программное управление (37/304 имеет преимущество) [3]   37/304 . .  управление приборами с помощью информации, поступающей от объекта, например сигналов коррекции [3]   37/305 . .  для литья, расплавления, испарения, гравировки или травления [2]   37/31 . .  для резания или сверления [2]   37/315 . .  для сварки [2]   37/317 . .  для изменения свойств объектов или для нанесения тонких слоев на них, например ионное внедрение (37/36 имеет преимущество) [3]   37/32 .  газонаполненные разрядные приборы (нагрев за счет разряда H 05B)   37/34 . .  работающие с катодным распылением (37/36 имеет преимущество) [3]   37/36 . .  для очистки поверхностей в процессе покрытия материалов ионами, вводимыми в разрядное пространство, например путем испарения [3] Введение в МПК         Текст МПК8         IPC - English         IPC - France