ЕАПО > РОСПАТЕНТ > Международная патентная классификация

Введение в МПК Текст МПК8  A   B   C   D   E   F   G   H   МПК7   МПК6   G   G01   G01N  IPC - English IPC - France

G01N 13/00 - Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности; исследование диффузионных эффектов; анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне [1,7]   13/02 .  исследование поверхностного натяжения жидкостей   13/04 .  исследование осмотических свойств   13/10 .  Исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне с использованием техники сканирующего зонда (посредством измерения вторичной эмиссии 23/22; измерение размеров с использованием техники сканирующего зонда G 01B; конструктивные детали устройств сканирующего зонда вообще G 12B 21/00) [7]   13/12 . .  с использованием сканирующей туннельной микроскопии (STM) [7]   13/14 . .  с использованием сканирующей оптической микроскопии в ближней зоне (SNOM) [7]   13/16 . .  с использованием атомной микроскопии (AFM) [7]   13/18 . .  с использованием сканирующей ионопроводящей микроскопии (SICM) [7]   13/20 . .  с использованием сканирующей емкостной микроскопии (SCM) [7]   13/22 . .  с использованием магнитно-силовой микроскопии (MFM) [7]   13/24 . .  с использованием сканирующей электрохимической микроскопии [7] Введение в МПК         Текст МПК8         IPC - English         IPC - France