| 29/02 | . | детектирование или определение местоположения неисправных вспомогательных схем, например неисправных счетчиков регенерации [8] |
| 29/04 | . | детектирование или определение местоположения неисправных элементов памяти [8] |
| 29/06 | . . | испытание на ускорение [8] |
| 29/08 | . . | функциональные испытания, например испытание во время регенерации (обновления) данных, самотестирование при включении питания (POST) или распределенные испытания [8] |
| 29/10 | . . | . | алгоритмы испытаний, например алгоритм сканирования памяти (MScan); последовательности тестирования, например в шахматном порядке [8] |
| 29/12 | . . | . | встроенные (аппаратные) средства самотестирования (BIST) [8] |
| 29/14 | . . | . . | реализация логики управления, например декодеры режима тестирования [8] |
| 29/16 | . . | . . | . | с использованием микропрограммных блоков, например конечных автоматов [8] |
| 29/18 | . . | . . | устройства генерирования адреса; устройства для доступа к памяти, например элементы схем адресации [8] |
| 29/20 | . . | . . | . | и использованием счетчиков или сдвиговых регистров с линейной обратной связью (LFSR) [8] |
| 29/22 | . . | . . | . | доступ к последовательным запоминающим устройствам [8] |
| 29/24 | . . | . . | . | доступ к дополнительным ячейкам памяти, например резервным ячейкам или переполненным ячейки [8] |
| 29/26 | . . | . . | . | доступ к множественным массивам данных (29/24 имеет преимущество) [8] |
| 29/28 | . . | . . | . . | зависимые множественные массивы, например многоразрядные массивы [8] |
| 29/30 | . . | . . | . | доступ к единичным массивам данных [8] |
| 29/32 | . . | . . | . . | последовательный доступ; испытание сканированием [8] |
| 29/34 | . . | . . | . . | доступ одновременно к множеству разрядов [8] |
| 29/36 | . . | . . | устройства формирования данных, например инверторы данных [8] |
| 29/38 | . . | . . | устройства проверки ответа на запрос [8] |
| 29/40 | . . | . . | . | с использованием методов сжатия данных [8] |
| 29/42 | . . | . . | . | с использованием кодов с исправлением ошибок (ECC) или констроля соотношений [8] |
| 29/44 | . . | . . | индикация или идентификация ошибок, например для ремонта [8] |
| 29/46 | . . | . . | . | испытание триггерных логических схем [8] |
| 29/48 | . . | . | приспособления в статических запоминающих устройствах, специально предназначенные для испытаний с помощью внешних средств по отношению к запоминающему устройству, например использование прямого доступа к памяти или вспомогательных путей доступа (внешнее оборудование для испытаний 29/56) [8] |
| 29/50 | . . | граничные испытания, например проверка скорости, напряжения или тока [8] |
| 29/52 | . | защита содержимого памяти; обнаружение ошибок в содержимом памяти [8] |
| 29/54 | . | устройства для разработки схем тестирования, например подпрограмм тестирования (DFT) [8] |
| 29/56 | . | внешнее оборудование для испытаний статических запоминающих устройств, например автоматическое оборудование для тестирования (ATE) ; интерфейсы для таких испытаний [8] |