В начало Российская ФедерацияРоссийская Федерация РОСПАТЕНТ
English

Российская Федерация Российская Федерация
G11C 29/00 - Контроль правильности работы запоминающих устройств; испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы [1,8]
 29/02детектирование или определение местоположения неисправных вспомогательных схем, например неисправных счетчиков регенерации [8]
 29/04детектирование или определение местоположения неисправных элементов памяти [8]
 29/06. . испытание на ускорение [8]
 29/08. . функциональные испытания, например испытание во время регенерации (обновления) данных, самотестирование при включении питания (POST) или распределенные испытания [8]
 29/10. . алгоритмы испытаний, например алгоритм сканирования памяти (MScan); последовательности тестирования, например в шахматном порядке [8]
 29/12. . встроенные (аппаратные) средства самотестирования (BIST) [8]
 29/14. . . . реализация логики управления, например декодеры режима тестирования [8]
 29/16. . . . с использованием микропрограммных блоков, например конечных автоматов [8]
 29/18. . . . устройства генерирования адреса; устройства для доступа к памяти, например элементы схем адресации [8]
 29/20. . . . и использованием счетчиков или сдвиговых регистров с линейной обратной связью (LFSR) [8]
 29/22. . . . доступ к последовательным запоминающим устройствам [8]
 29/24. . . . доступ к дополнительным ячейкам памяти, например резервным ячейкам или переполненным ячейки [8]
 29/26. . . . доступ к множественным массивам данных (29/24 имеет преимущество) [8]
 29/28. . . . . . зависимые множественные массивы, например многоразрядные массивы [8]
 29/30. . . . доступ к единичным массивам данных [8]
 29/32. . . . . . последовательный доступ; испытание сканированием [8]
 29/34. . . . . . доступ одновременно к множеству разрядов [8]
 29/36. . . . устройства формирования данных, например инверторы данных [8]
 29/38. . . . устройства проверки ответа на запрос [8]
 29/40. . . . с использованием методов сжатия данных [8]
 29/42. . . . с использованием кодов с исправлением ошибок (ECC) или констроля соотношений [8]
 29/44. . . . индикация или идентификация ошибок, например для ремонта [8]
 29/46. . . . испытание триггерных логических схем [8]
 29/48. . приспособления в статических запоминающих устройствах, специально предназначенные для испытаний с помощью внешних средств по отношению к запоминающему устройству, например использование прямого доступа к памяти или вспомогательных путей доступа (внешнее оборудование для испытаний 29/56) [8]
 29/50. . граничные испытания, например проверка скорости, напряжения или тока [8]
 29/52защита содержимого памяти; обнаружение ошибок в содержимом памяти [8]
 29/54устройства для разработки схем тестирования, например подпрограмм тестирования (DFT) [8]
 29/56внешнее оборудование для испытаний статических запоминающих устройств, например автоматическое оборудование для тестирования (ATE) ; интерфейсы для таких испытаний [8]
Введение в МПК         Текст МПК8         IPC - English         IPC - France