Патентная документация ЕАПВ |
|||
Запрос: | ea201900004a*\id |
|
Термины запроса в документе Реферат [RU] Предлагаемая эталонная мера толщины металлического покрытия (3), нанесённого на металлическое основание (1), предназначена для поверки и настройки толщиномеров (8), реализующих предпочтительно электромагнитные методы измерения, которые применяют для измерения толщины ферро- и неферромагнитных металлических покрытий, нанесённых на изделия, изготовленные из различных ферро- и неферромагнитных металлов. Технической задачей изобретения является повышение точности измерений с помощью заявляемой эталонной меры. Материалы металлического покрытия (3) и металлического основания эталонной меры подобраны так, что учитывают электропроводность металлического покрытия (3) меры, электропроводность и магнитную проницаемость металлического основания (1) меры, а площадь центральной зоны (S 3 ) с металлическим покрытием (3) больше или равна площади зоны измерения (S 7 ) измерительного преобразователя (датчика) (7) толщиномера (8), поверяемого или настраиваемого с помощью эталонной меры. Мера также содержит маркировку толщины металлического покрытия (3). |