| | 23/02 | . | путем пропускания излучения через материал [2006.01] |
| | 23/04 | . . | и формирование изображений материала [1,2006.01,2018.01] |
| | 23/041 | . . | . | фазово-контрастных изображений, например с использованием дифракционных интерферометров [2018.01] |
| | 23/044 | . . | . | с использованием ламинографии или томосинтеза [2018.01] |
| | 23/046 | . . | . | с использованием томографии, например компьютерной томографии [CT] [2018.01] |
| | 23/05 | . . | . | с использованием нейтронов [3,2006.01] |
| | 23/06 | . . | и измерение абсорбции [2018.01] |
| | 23/083 | . . | . | рентгеновского излучения [5,2006.01,2018.01] |
| | 23/085 | . . | . . | тонкие структуры поглощения рентгеновского излучения [XAFS], например протяженная XAFS [ЕXAFS] [2018.01] |
| | 23/087 | . . | . . | с использованием полиэнергетического рентгеновского излучения [5,2018.01] |
| | 23/09 | . . | . | нейтронного излучения [3,2018.01] |
| | 23/095 | . . | . | гамма - резонансного поглощения, например с использованием эффекта Мессбауэра [2018.01] |
| | 23/10 | . . | . | материала, заключенного в контейнер, например в рентгеновских cканерах багажа [1,3,2006.01,2018.01] |
| | 23/12 | . . | . | материала, представляющего собой тягучую жидкую среду или поток сыпучего твердого вещества [1,3,2006.01,2018.01] |
| | 23/16 | . . | . | материала, представляющего собой движущийся лист или плёнку [1,3,2006.01,2018.01] |
| | 23/18 | . . | . | исследование наличия дефектов или инородных включений [1,3,5,2006.01,2018.01] |
| | 23/20 | . | с использованием отклонения (дифракции) излучения материалами, например для исследования структуры кристалла; с использованием рассеивания излучения материалами, например для исследования некристаллических материалов; с использованием отражения излучения материалами [2018.01] |
| | 23/20008 | . . | конструктивные элементы анализаторов, например характеризуемые источниками рентгеновского излучения, детектором или оптической системой; аксессуары для них; подготовка образцов для них (монохроматоры для рентгеновского излучения, использующие кристаллы G21K 1/06) [2018.01] |
| | 23/20016 | . . | . | гониометры [2018.01] |
| | 23/20025 | . . | . | держатели образца или подставки для них [2018.01] |
| | 23/20033 | . . | . . | снабженные средствами управления температурой или нагревом [2018.01] |
| | 23/20041 | . . | . . | для испытаний под высоким давлением, например упоры [2018.01] |
| | 23/2005 | . . | . | подготовка порошковых образцов для этого [2018.01] |
| | 23/20058 | . . | измерение дифракции электронов, например способ дифракции медленных электронов [LEFD] или способ отражательной дифракции быстрых электронов [2018.01] |
| | 23/20066 | . . | измерение неупругого рассеяния гамма лучей, например эффект Комптона [2018.01] |
| | 23/20091 | . . | измерение спектра рассеянной энергии [EDS] дифрагированного излучения [2018.01] |
| | 23/201 | . . | измерение рассеяния под малыми углами, например рассеяния рентгеновского излучения под малыми углами [SAXS] [2,2006,01,2018.01] |
| | 23/202 | . . | . | с использованием нейтронов [3,2006.01] |
| | 23/203 | . . | измерение обратного рассеяния [2,2006.01] |
| | 23/204 | . . | . | с использованием нейтронов [3,2006.01] |
| | 23/205 | . . | с использованием дифракционных камер [2,2006.01,2018.01] |
| | 23/2055 | . . | анализ дифракционных рисунков [2018.01] |
| | 23/207 | . . | дифрактометрия, например с использованием зонда, размещенного в центральном положении, и одного или нескольких перемещаемых детекторов, расположенных по кругу [2,2006.01,2018.01] |
| | 23/22 | . | путем измерения вторичной эмиссии от материала [2,2018.01] |
| | 23/2202 | . . | подготовка образцов для этого [2018.01] |
| | 23/2204 | . . | подставки для образцов; средства для перемещения образца [2018.01] |
| | 23/2206 | . . | комбинация двух или более измерений, по меньшей мере одно измерение из которых является измерением вторичной эмиссии, например комбинация измерения вторичных электронов [SE] и измерения электронов обратного рассеяния [BSE] [2018.01] |
| | 23/2208 | . . | . | все измерения, являющихся измерением вторичной эмиссии, например комбинация измерения SE и измерение параметров рентгеновского излучения [2018.01] |
| | 23/2209 | . . | с использованием волновой дисперсионной спектроскопии [WDS] [2018.01] |
| | 23/221 | . . | активационным анализом [2,2006.01] |
| | 23/222 | . . | . | с использованием нейтронного активационного анализа [NAA] [3,2006.01] |
| | 23/223 | . . | . . | путем облучения образца рентгеновским излучением или гамма-излучением и путем измерения флюоресценции рентгеновского излучения [2006.01] |
| | 23/225 | . . | с использованием электронных или ионных микрозондов [2,2006.01,2018.01] |
| | 23/2251 | . . | . | с использованием падающих электронных потоков, например сканирующей электронной микроскопии [SEM] [2018.01] |
| | 23/2252 | . . | . . | измерение излученного рентгеновского излучения, например электроннозондовый микроанализатор [EPMA] [2018.01] |
| | 23/2254 | . . | . . | измерение катодолюминесценции [2018.01] |
| | 23/2255 | . . | . | с использованием падающих ионных пучков, например протонных пучков [2018.01] |
| | 23/2257 | . . | . . | измерение излучённого рентгеновского излучения, т.е. частично индуцированная эмиссия рентгеновского излучения [2018.01] |
| | 23/2258 | . . | . . | измерение вторичной ионной эмиссии, например масс-спектрометр вторичных ионов [SIMS] (аспекты анализа отношения массы к заряду SIMS для анализа материалаG01N 27/62) [2018.01] |
| | 23/227 | . . | измерение фотоэлектрического эффекта, например фотоэлектронная эмиссионная микроскопия [PEEM] [2,2006,01,2018.01] |
| | 23/2273 | . . | . | измерение фотоэлектронного спектра, например электронная спектроскопия для химического анализа [ESCA] или фотоэлектронная спектроскопия рентгеновского излучения [XPS] [2018.01] |
| | 23/2276 | . . | . | с использованием эффекта Оже, например электронная спектроскопия Оже [AES] [2018.01] |
ЕАПО >
РОСПАТЕНТ
> Международная патентная классификация (IPC2021/G/G01N023.htm.01)
