В начало Российская ФедерацияРоссийская Федерация РОСПАТЕНТ

Российская Федерация Российская Федерация
H01L 31/00 - Полупроводниковые приборы, чувствительные к инфракрасному излучению, свету, электромагнитному, коротковолновому или корпускулярному излучению, специально предназначенные либо для преобразования энергии такого излучения в электрическую энергию, либо для управления электрической энергией с помощью такого излучения; способы или устройства, специально предназначенные для изготовления или обработки таких приборов или их частей; конструктивные элементы приборов (H01L 51/42 имеет преимущество; приборы, состоящие из нескольких компонентов на твердом теле, сформированных на общей подложке или внутри нее, кроме приборов, содержащих чувствительные к излучению компоненты, в комбинации с одним или несколькими электрическими источниками света H01L 27/00) [2,6,8]
 31/02конструктивные элементы [2]
 31/0203. . корпуса; герметизация (для фотоэлектрических устройств H01L 31/048; для органических фоточувствительных устройств H01L 51/44) [5,2014.01]
 31/0216. . покрытия (H01L 31/041 имеет преимущество) [5,2014.01]
 31/0224. . электроды [5]
 31/0232. . оптические элементы или приспособления, связанные с прибором (H01L 31/0236 имеет преимущество; для фотоэлектрических элементов H01L 31/054; для фотоэлектрических модулей H02S 40/20) [5,2014.01]
 31/0236. . специальные поверхностные рельефы [5]
 31/024. . приспособления для охлаждения, нагревания, вентиляции или температурной компенсации (для фотоэлектрических устройств H01L 31/052 ) [5,2014.01]
 31/0248характеризуемые полупроводниковой подложкой [5]
 31/0256. . отличающиеся материалом кристалла [5]
 31/0264. . неорганическим материалом [5]
 31/0272. . . . использованием селена или теллура [5]
 31/028. . . . содержащим, помимо легирующего вещества и других примесей, только химические элементы IV группы Периодической Системы [5]
 31/0288. . . . характеризуемые легирующим веществом [5]
 31/0296. . . . содержащим, помимо легирующего вещества и других примесей, только соединения типа AIIBVI, например CdS, ZnS, HgCdTe [5]
 31/0304. . . . содержащим, помимо легирующего вещества и других примесей, только соединения типа AIIIBV [5]
 31/0312. . . . содержащим, помимо легирующего вещества и других примесей, только соединения типа AIVBIV, например SiC [5]
 31/032. . . . содержащим, помимо легирующего вещества и других примесей, только соединения, не предусмотренные в рубриках H01L 31/0272 - H01L 31/0312 [5]
 31/0328. . . . содержащим, помимо легирующего вещества и других примесей, полупроводниковые материалы, предусмотренные в двух или более рубриках H01L 31/0272 - H01L 31/032 [5]
 31/0336. . . . в различных полупроводниковых областях, например гетеропереходах Cu2X - CdX, где X - элемент VI группы Периодической Системы [5]
 31/0352. . характеризуемые формой или формами, относительными размерами или расположением полупроводниковых областей [5]
 31/036. . отличающиеся кристаллической структурой или особой ориентацией кристаллографических плоскостей [5]
 31/0368. . содержащие поликристаллические полупроводники (H01L 31/0392 имеет преимущество) [5]
 31/0376. . содержащие аморфные полупроводники (H01L 31/0392 имеет преимущество) [5]
 31/0384. . содержащие другие немонокристаллические материалы, например полупроводниковые частицы, внедренные в диэлектрик (H01L 31/0392 имеет преимущество) [5]
 31/0392. . содержащие тонкие пленки, осажденные на металлические или диэлектрические подложки [5]
 31/04предназначенные для работы в качестве фотоэлектрических преобразователей, например фотоэлектрические модули или единичные фотоэлектрические элементы (проверка их в процессе изготовления H01L 21/66; проверка их после изготовления H02S 50/10) [2,2014.01]
 31/041. . меры для предотвращения повреждений, вызванных корпускулярным излучением, например для использования в космосе [2014.01]
 31/042. . фотоэлектрические модули или матрицы единичных фотоэлектрических элементов (несколько тонкоплёночных солнечных элементов на общей подложке H01L 27/142; опорные подложки для фотоэлектрических H02S 20/00) [5,2014.01]
 31/043. . механически пакетированные фотоэлектрические элементы [2014.01]
 31/044. . включающие в себя шунтирующие диоды (шунтирующие диоды в электромонтажных коробках H02S 40/34) [2014.01]
 31/0443. . . . содержащие шунтирующие диоды, встроенные или непосредственно соединенные с устройствами, например шунтирующие диоды, встроенные или сформированные внутри или на той же самой подложке, что и фотоэлектрические элементы [2014.01]
 31/0445. . включающие в себя тонкоплёночные солнечные элементы, например единичные тонкоплёночные Si, CIS или CdTe солнечные элементы [2014.01]
 31/046. . . . фотоэлектрические модули, состоящие из нескольких тонкоплёночных солнечных элементов, расположенных на одной подложке [2014.01]
 31/0463. . . . отличающиеся особыми способами формирования рисунка для соединения фотоэлектрических элементов в модуле, например лазерная резка проводящих или активных слоёв [2014.01]
 31/0465. . . . содержащие особые конструкции для электрического взаимодействия соседних фотоэлектрических ячеек в модуле (H01L 31/0463 имеет преимущество) [2014.01]
 31/0468. . . . содержащие специальные средства для получения частичного пропускания света через модуль, например частично прозрачные тонкоплёночные солнечные модули для окон (2014.01][2014.01]
 31/047. . матрицы фотоэлектрических элементов включающие в себя фотоэлектрические элементы с несколькими вертикальными переходами или несколькими переходами с V-образными канавками, сформированными в полупроводниковой подложке [2014.01]
 31/0475. . матрицы фотоэлектрических элементов, выполненные с помощью элементов, расположенных в одной плоскости, например повторяющихся, на единственной полупроводниковой подложке; микроматрицы фотоэлектрических элементов (фотоэлектрические модули, состоящие из нескольких тонкоплёночных солнечных элементов, расположенных на одной подложке H01L 31/046) [2014.01]
 31/048. . изолирование модулей [5,2014.01]
 31/049. . . . защитные задние листы [2014.01]
 31/05. . электрические средства взаимодействия между фотоэлектрическими элементами внутри фотоэлектрического модуля, например при последовательном включении фотоэлектрических элементов (электроды H01L 31/0224; электрическое взаимодействие тонкоплёночных солнечных элементов, сформированных на общей подложке H01L 27/142; средства взаимодействия, специально предназначенные для электрического соединения двух или более фотоэлектрических модулей H02S 40/36 ) [5,2014.01]
 31/052. . средства охлаждения непосредственно связанные или встроенные в фотоэлектрический элемент, например встроенные элементы Пельтье для активного охлаждения или радиаторы, непосредственно соединенные с фотоэлектрическими элементами (средства охлаждения, объединенные с фотоэлектрическим модулем H02S 40/42) [5,2014.01]
 31/0525. . включающие в себя средства для утилизации тепловой энергии, непосредственно связанные с фотоэлектрическим элементом, например встроенные элементы Зеебека [2014.01]
 31/053. . средства накопления энергии, связанные или встроенные в фотоэлектрический элемент, например конденсатор, встроенный в фотоэлектрический элемент (средства накопления энергии, связанные с фотоэлектрическим модулем H02S 40/38) [2014.01]
 31/054. . оптические элементы, непосредственно связанные или объединённые с фотоэлектрическим элементом, например светоотражающие средства или светоконцентрирующие средства [2014.01]
 31/055. . в которых свет поглощается и повторно излучается на другой длине волны оптическим элементом, непосредственно связанным или объединенным с фотоэлектрическим элементом, например с помощью люминесцентного материала, флуоресцентных концентраторов или устройств преобразования с повышением частоты [5,2014.01]
 31/056. . светоотражающие средства, являющиеся рефлектором типа рефлектора с тыльной поверхностью [BSR] [2014.01]
 31/06. . характеризуемые, по меньшей мере, одним потенциальным барьером, на котором имеет место скачкообразное изменение потенциала, или поверхностным барьером [2,2012.01]
 31/061. . потенциальные барьеры типа точечного контакта (H01L 31/07 имеет преимущество) [2012.01]
 31/062. . с потенциальными барьерами только типа металл-диэлектрик-полупроводник [5,2012.01]
 31/065. . с потенциальными барьерами только с плавно изменяющейся запрещенной зоной [5,2012.01]
 31/068. . потенциальные барьеры только типа барьеров с p-n гомоструктурным переходом, например монолитные кремниевые p-n гомоструктурные солнечные батареи или кремниевые поликристаллические тонкопленочные p-n гомоструктурные солнечные батареи [5,2012.01]
 31/0687. . . . многопереходные или двухкаскадные солнечные батареи [2012.01]
 31/0693. . . . устройства, включающие в себя, за исключением примесного материала или других примесей, только соединения AIIIBV, например GaAs или InP солнечные батареи [2012.01]
 31/07. . с потенциальными барьерами только типа Шотки [5,2012.01]
 31/072. . потенциальные барьеры только типа барьеров с p-n гетероструктурным переходом [5,2012.01]
 31/0725. . . . многопереходные или двухкаскадные солнечные батареи [2012.01]
 31/073. . . . содержащие только полупроводниковые соединения AIIBVI, например CdS/CdTe солнечные батареи [2012.01]
 31/0735. . . . содержащие только полупроводниковые соединения AIIIBV, например GaAs/AlGaAs или InP/GaInAs солнечные батареи [2012.01]
 31/074. . . . содержащие гетероструктурный переход с элементом VI группы Периодической Системы, например ITO/Si, GaAs/Si или CdTe/Si солнечные батареи [2012.01]
 31/0745. . . . содержащие AIVBIV гетероструктурный переход, например Si/Ge, SiGe/Si or Si/SiC солнечные батареи [2012.01]
 31/0747. . . . содержащие гетероструктурный переход из кристаллических или аморфных материалов, например гетероструктурный переход с собственным тонким слоем или HIT® солнечные батареи [2012.01]
 31/0749. . . . включающие в себя AIBIIICVI соединения, например солнечные батареи CdS/CuInSe2 (CIS) с гетероструктурным переходом [2012.01]
 31/075. . потенциальные барьеры только p-i-n типа, например аморфные силиконовые p-i-n солнечные батареи [5,2012.01]
 31/076. . . . многопереходные или двухкаскадные солнечные батареи [2012.01]
 31/077. . . . устройства, содержащие монокристаллические или поликристаллические материалы [2012.01]
 31/078. . включающие в себя разные типы потенциальных барьеров, предусмотренные в двух или более группах H01L 31/061 - H01L 31/075 [5,2012.01]
 31/08в которых излучение управляет током, проходящим через прибор, например фоторезисторы [2]
 31/09. . приборы, чувствительные к инфракрасному, видимому или ультрафиолетовому излучению (H01L 31/101 имеет преимущество) [5]
 31/10. . характеризуемые наличием, по меньшей мере, одного поверхностного барьера или потенциального барьера, на котором имеет место скачкообразное изменение потенциала, например фототранзисторы [2]
 31/101. . чувствительные к инфракрасному, видимому или ультрафиолетовому излучению [5]
 31/102. . . . характеризуемые наличием только одного потенциального или поверхностного барьера [5]
 31/103. . . . с потенциальным барьером в виде p-n перехода [5]
 31/105. . . . с потенциальным барьером p-i-n типа [5]
 31/107. . . . с потенциальным барьером, работающим в лавинном режиме, например лавинные фотодиоды [5]
 31/108. . . . с потенциальным барьером Шотки [5]
 31/109. . . . с потенциальным барьером в виде p-n гетероперехода [5]
 31/11. . . . характеризуемые наличием двух потенциальных или поверхностных барьеров, например биполярные фототранзисторы [5]
 31/111. . . . характеризуемые наличием трех потенциальных барьеров, например фототиристоры [5]
 31/112. . . . характеризуемые действием полевого эффекта, например плоскостные полевые фототранзисторы [5]
 31/113. . . . со структурой типа проводник-диэлектрик-полупроводник, например полевые транзисторы со структурой металл-диэлектрик-полупроводник [5]
 31/115. . приборы, чувствительные к волнам очень короткой длины, например рентгеновскому излучению, гамма-излучению или корпускулярному излучению [5]
 31/117. . . . детекторы излучения, основанные на использовании объемного эффекта, например германиево-литиевые детекторы гамма-излучения с компенсированным p-i-n-переходом [5]
 31/118. . . . детекторы, основанные на использовании поверхностного барьера, или неглубокого p-n перехода, например детекторы альфа-частиц с использованием поверхностного барьера [5]
 31/119. . . . характеризуемые использованием полевого эффекта, например детекторы со структурой типа металл-диэлектрик-полупроводник [5]
 31/12связанные с одним или несколькими электрическими, например электролюминесцентными, источниками света конструктивным путем, например путем формирования на общей подложке или внутри нее, и кроме того электрически или оптически связанные с этими источниками света (электролюминесцентные источники света как таковые H05B 33/00) [2,5]
 31/14. . с одним или несколькими источниками света, управляемыми полупроводниковыми приборами, чувствительными к излучению, например электронно-оптические преобразователи, электронно-оптические усилители изображения, электронно-оптические устройства для запоминания изображения [2]
 31/147. . полупроводниковые приборы - источники света и приборы, чувствительные к излучению - отличающиеся наличием по меньшей мере одного потенциального или поверхностного барьера [5]
 31/153. . . . сформированные на общей подложке или внутри нее [5]
 31/16. . с полупроводниковым прибором, чувствительным к излучению и управляемым одним или несколькими источниками света [2]
 31/167. . полупроводниковые приборы - источники света и приборы, чувствительные к излучению - отличающиеся наличием по меньшей мере одного потенциального или поверхностного барьера [5]
 31/173. . . . сформированные на общей подложке или внутри нее [5]
 31/18способы и устройства, специально предназначенные для изготовления или обработки таких приборов или их частей [2]
 31/20. . приборы или их части, содержащие аморфный полупроводниковый материал [5]