ЕАПО > РОСПАТЕНТ > Международная патентная классификация (IPC2019/G/G01B015.htm.01)

Руководство к МПК Текст МПК (2022.01) Текст МПК (2021.01) Текст МПК (2020.01) Текст МПК (2019.01) Текст МПК (2018.01) Текст МПК (2017.01) Текст МПК (2016.01) Текст МПК (2015.01) Текст МПК (2014.01) Текст МПК (2013.01) Текст МПК (2012.01) Текст МПК (2011.01) Текст МПК (2010.01) Текст МПК (2009.01)  A   B   C   D   E   F   G   H  IPC-English IPC-France

G01B 15/00 - Измерительные устройства, характеризуемые использованием волновых излучений или потоков элементарных частиц (G01B 9/00,G01B 11/00 имеют преимущество) [4]   15/02 .  для измерения толщины   15/04 .  для измерения контуров или кривых   15/06 .  для измерения деформаций твердых тел   15/08 .  для измерения шероховатости или неровности поверхностей [6]