| | 30/02 | . | устройства не относящиеся к типу SPM анализирующих устройств, например SEM (Сканирующий Электронный Микроскоп), спектрометр или оптический микроскоп [2010.01] |
| | 30/04 | . | дисплеи или устройства обработки данных [2010.01] |
| | 30/06 | . . | для компенсации ошибок [2010.01] |
| | 30/08 | . | средства для установления или регулировки желательных условий среды внутри камеры образцов [2010.01] |
| | 30/10 | . . | температурной среды [2010.01] |
| | 30/12 | . . | текучей среды [2010.01] |
| | 30/14 | . . | . | жидкой среды [2010.01] |
| | 30/16 | . . | вакуумной среды [2010.01] |
| | 30/18 | . | средства для защиты или изоляции внутренней части камеры образцов от воздействий внешней среды или влияния внешних вредных условий, например вибраций или электромагнитных полей [2010.01] |
| | 30/20 | . | устройства или способы манипулирования образцами [2010.01] |