ЕАПО > РОСПАТЕНТ > Международная патентная классификация (IPC2016/G/G01R033.htm.01)

Руководство к МПК Текст МПК (2022.01) Текст МПК (2021.01) Текст МПК (2020.01) Текст МПК (2019.01) Текст МПК (2018.01) Текст МПК (2017.01) Текст МПК (2016.01) Текст МПК (2015.01) Текст МПК (2014.01) Текст МПК (2013.01) Текст МПК (2012.01) Текст МПК (2011.01) Текст МПК (2010.01) Текст МПК (2009.01)  A   B   C   D   E   F   G   H  IPC-English IPC-France

G01R 33/00 - Устройства для измерения переменных магнитных величин   33/02 .  измерение направления или напряженности магнитных полей или магнитных потоков (G01R 33/20 имеет преимущество) [4]   33/022 . .  измерение градиента [3]   Примечание: Рубрики G01R 33/022 или G01R 33/10 имеют преимущество перед рубриками G01R 33/025 - G01R 33/06.   33/025 . .  компенсационных полей рассеяния [3]   33/028 . .  электродинамические магнитометры [3]   33/032 . .  с помощью магнитооптических приборов, например приборов Фарадея [3]   33/035 . .  с помощью приборов со сверхпроводимостью [3]   33/038 . .  с помощью постоянных магнитов, например компенсаторов, крутильных устройств [3]   33/04 . .  с использованием принципа магнитного строба   33/05 . .  .  в тонкопленочных элементах [3]   33/06 . .  с помощью гальваномагнитных приборов   33/07 . .  .  приборов, основанных на эффекте Холла [6]   33/09 . .  .  приборов с магнитным сопротивлением [6]   33/10 . .  путем построения диаграммы распределения поля   33/12 .  измерение магнитных свойств образцов твердых или текучих материалов или изделий из них (с применением электронного или ядерного магнитного резонанса G01R 33/20) [4]   33/14 . .  определения и(или) построения гистерезисных кривых   33/16 . .  измерения магнитной восприимчивости   33/18 . .  определения магнитострикционных свойств   33/20 .  с применением магнитного резонанса (медицинские аспекты A61B 5/055; гирометры с ядерным магнитным резонансом G01C 19/60) [4,5]   33/24 . .  для измерения направления или величины магнитных полей или магнитных потоков [4]   33/26 . .  .  с использованием оптической накачки [4]   33/28 . .  конструктивные элементы устройств, отнесенных к рубрикам G01R 33/44 - G01R 33/64 [5]   33/30 . .  .  устройства для обработки образцов, например пробные элементы, механизмы, обеспечивающие вращение вокруг оси, вытягивание [5]   33/31 . .  . .  температурный контроль для этого [6]   33/32 . .  .  системы возбуждения или обнаружения, например с использованием радиочастотных сигналов [5]   33/34 . .  . .  элементы конструкции, например резонаторы [5]   33/341 . .  . .  .  включающие поверхностные обмотки [6]   33/3415 . .  . .  . .  включающие ряд вспомогательных катушек [6]   33/343 . .  . .  .  электронных ламп типа щелевого или петлевого зазора [6]   33/345 . .  . .  .  волнового типа (G01R 33/343 имеет преимущество) [6]   33/36 . .  . .  электрические элементы, например сочетание или соединение катушек с приемником [5]   33/38 . .  .  системы генерации, обеспечения однородности или стабилизации основного или градиентного магнитного поля [5]   Примечание: Рубрики G01R 33/385 - G01R 33/389 имеют преимущество перед рубриками G01R 33/381 - G01R 33/383. [6]   33/381 . .  . .  с использованием электромагнитов [6]   33/3815 . .  . .  .  со сверхпроводящими обмотками, например источники питания для них [6]   33/383 . .  . .  с использованием постоянных магнитов [6]   33/385 . .  . .  с использованием градиентного магнитного поля катушек [6]   33/387 . .  . .  компенсации неоднородностей [6]   33/3873 . .  . .  .  с использованием ферромагнитных тел [6]   33/3875 . .  . .  .  с использованием блока корректирующих катушек, например активное шиммирование (компенсация) [6]   33/389 . .  . .  стабилизация поля [6]   33/42 . .  .  экранирование [5,6]   33/421 . .  . .  основного или градиентного магнитного поля [6]   33/422 . .  . .  радиочастотного поля [6]   33/44 . .  с использованием ядерного магнитного резонанса (ЯМР) (G01R 33/24,G01R 33/62 имеют преимущество) [5]   33/46 . .  .  спектроскопия с использованием ядерного магнитного резонанса [5]   33/465 . .  . .  с применением биологических материалов, например испытания в искусственных условиях [6]   33/48 . .  .  системы получения изображения с использованием ядерного магнитного резонанса [5]   33/483 . .  . .  с отбором сигнала или спектра из отдельных областей объема, например спектроскопия в естественных условиях [6]   33/485 . .  . .  .  основанные на данных о химическом сдвиге [6]   33/50 . .  . .  основанные на определении времени релаксации [5]   33/54 . .  . .  системы обработки сигналов, например с использованием импульсных рядов [5]   33/56 . .  . .  .  усиление или выпрямление изображения, например искажение и усреднение [5]   33/561 . .  . .  . .  путем уменьшения времени сканирования, то есть быстрообнаруживающие системы, например с использованием отраженных плоских импульсных рядов [6]   33/563 . .  . .  . .  движущегося материала, например контрастная ангиография [6]   33/565 . .  . .  . .  коррекция искажения изображения, например благодаря неоднородности магнитного поля [6]   33/567 . .  . .  . .  управлением импульсами физиологических сигналов [6]   33/58 . .  . .  калибровка систем получения изображения, например с использованием испытательных зондов [5]   33/60 . .  с использованием электронного парамагнитного резонанса (G01R 33/24,G01R 33/62 имеют преимущество) [5]   33/62 . .  с использованием двойного резонанса (G01R 33/24 имеет преимущество) [5]   33/64 . .  с использованием циклотронного резонанса (G01R 33/24 имеет преимущество) [5]