В начало Российская ФедерацияРоссийская Федерация РОСПАТЕНТ

Российская Федерация Российская Федерация
G03F 1/00 - Оригиналы для фотомеханического получения текстурированных или фигурных поверхностей, например масок, фотомасок, сеток; бланки фотомасок или пленки для них; контейнеры, специально предназначенные для них; их изготовление [3,2012.01
 Примечание:В этой основной группе на каждом иерархическом уровне, при отсутствии указания к обратному, классифицирование проводится в первой подходящей рубрике. [2012.01]

 1/20маски или бланки масок для формирования изображений с помощью излучения потока заряженных частиц (CPB), например, с помощью электронного потока; их изготовление [2012.01]
 1/22маски или бланки масок для формирования изображения с помощью излучения с длиной волны 100 нм или меньше, например рентгеновские маски, маски далекого ультрафиолетового диапазона (EUV); их изготовление [2012.01]
 1/24. . отражающие маски; их изготовление [2012.01]
 1/26маски с фазовым сдвигом (PSM); PSM бланки; их изготовление [2012.01]
 1/28. . PSM c тремя или более разными фазами; их изготовление [2012.01]
 1/29. . кольцевые PSM или откидные PSM; их изготовление [2012.01]
 1/30. . перемежающиеся PSM, e.g. Левинсон-Шибайя PSM; их изготовление [2012.01]
 1/32. . ослабляющие PSM (att-PSM), например полутоновые PSM или PSM с полупрозрачным участком со сдвигом фазы; их изготовление [2012.01]
 1/34. . фазово-кромочные PSM, например бесхромные PSM; их изготовление [2012.01]
 1/36маски, обладающие свойствами приблизительной коррекции; их изготовление, например процессы оптической коррекции эффекта близости изображения (OPC) [2012.01]
 1/38маски, обладающие дополнительными особенностями, например специальными покрытиями или отметками для выравнивания или проверки; их изготовление [2012.01]
 1/40. . особенности, относящиеся к электростатическому заряду (ESD), например антистатические покрытия или проводящий металлический слой вокруг периферии подложки маски [2012.01]
 1/42. . особенности выравнивания или регистрации, например отметки выравнивания на подложках [2012.01]
 1/44. . особенности проверки или измерения, например решетчатые шаблоны, фокусирующие мониторы, пилообразные шкалы или шкалы с насечками [2012.01]
 1/46. . антиотражающие покрытия [2012.01]
 1/48. . защитные покрытия [2012.01]
 1/50бланки масок, не отнесенные к группам G03F 1/20-G03F 1/26; их изготовление [2012.01]
 1/52отражатели [2012.01]
 1/54абсорбенты, например матовые материалы [2012.01]
 1/56. . органические абсорбенты, например фоторезисты [2012.01]
 1/58. . с двумя или более разными поглощающими слоями, например многослойный абсорбент со слоями, уложенными в стопку [2012.01]
 1/60подложки [2012.01]
 1/62пленки или пакеты пленок, например имеющие мембрану на каркасе подложки; их изготовление [2012.01]
 1/64. . отличающиеся каркасами, например их конструкцией или материалом [2012.01]
 1/66контейнеры, специально приспособленные для масок, бланков масок или пленок; их изготовление [2012.01]
 1/68процессы изготовления, не отнесенные к группам G03F 1/20-G03F 1/50 [2012.01]
 1/70. . приспосабливание основного оригинала или рисунка масок к требованиям литографического процесса, например повторный цикл коррекции шаблонов маски для изображения [2012.01
 1/72. . исправление или коррекция дефектов масок [2012.01]
 1/74. . с помощью потока заряженных частиц (CPB), например фокусированного ионного потока [2012.01]
 1/76. . получение шаблонов масок с помощью изображения [2012.01]
 1/78. . с помощью потока заряженных частиц (CPB), например электронного потока [2012.01]
 1/80. . травление [2012.01]
 1/82. . вспомогательные процессы, например чистка [2012.01]
 1/84. . проверка [2012.01]
 1/86. . . . с помощью потока заряженных частиц (CPB) [2012.01]
 1/88полученные с помощью фотографических процессов для производства оригиналов с имитируемым рельефом [2012.01]
 1/90полученные с помощью процессов монтажа [2012.01]
 1/92полученные с печатных поверхностей [2012.01]