| | Примечание: | В этом подклассе применяется правило первой подходящей рубрики, т.е. на каждом иерархическом уровне классифицирование проводится в первой подходящей рубрике. [2010.01] |
|
| | G01Q 10/00 | Устройства сканирования или позиционирования, т.е. устройства для активного управления движением или положением зонда [2010.01] |
| | G01Q 20/00 | Мониторинг перемещения или положения зонда [2010.01] |
| | G01Q 30/00 | Вспомогательные средства, служащие для облегчения или улучшения применения методов или устройств сканирующего зонда, например дисплеи или устройства обработки данных [2010.01] |
| | G01Q 40/00 | Калибровка, например зондов [2010.01] |
| | G01Q 60/00 | Особые виды SPM (Микроскопии Сканирующего Зонда) или устройства для них; обязательные компоненты для них [2010.01] |
| | G01Q 70/00 | Общие аспекты SPM зондов, их изготовление или относящееся к ним оснащение в той мере, в какой эти зонды не являются специально предназначенными для одного конкретного типа техники SPM, охватываемых одной из групп G01Q 60/00 [2010.01] |
| | G01Q 80/00 | Применение методов сканирующего зонда иное, чем для микроскопии сканирующего зонда (SPM) (изготовление или обработка микроструктур B81C; изготовление или обработка наноструктур B82B 3/00; запись или воспроизведение информации с использованием взаимодействия ближнего поля G11B 9/12, G11B 11/24 или G11B 13/08) [2010.01] |
| | G01Q 90/00 | Методы сканирующего зонда или устройства, не предусмотренные в других группах данного подкласса [2010.01] |
ЕАПО >
РОСПАТЕНТ
> Международная патентная классификация (IPC2011/G/G01Q.htm.01)
