ЕАПО > РОСПАТЕНТ > Международная патентная классификация (IPC2010/G/G01Q080.htm.01)

Руководство к МПК Текст МПК (2022.01) Текст МПК (2021.01) Текст МПК (2020.01) Текст МПК (2019.01) Текст МПК (2018.01) Текст МПК (2017.01) Текст МПК (2016.01) Текст МПК (2015.01) Текст МПК (2014.01) Текст МПК (2013.01) Текст МПК (2012.01) Текст МПК (2011.01) Текст МПК (2010.01) Текст МПК (2009.01)  A   B   C   D   E   F   G   H  IPC-English IPC-France

ЕАПО > РОСПАТЕНТ > Международная патентная классификация   Введение в МПК Текст МПК (2010.01)  A   B   C   D   E   F   G   H   G   G01   G01Q  IPC - English IPC - France G01Q 80/00 - Применение методов сканирующего зонда иное, чем для микроскопии сканирующего зонда (SPM) (изготовление или обработка микроструктур В81С; изготовление или обработка наноструктур В82В 3/00; запись или воспроизведение информации с использованием взаимодействия ближнего поля G11B 9/12, G11B 11/24 или G11B 13/08) [2010.01] Введение в МПК         Текст МПК (2010.01)         IPC - English         IPC - France